מכשיר אפקט הול

פלטפורמת אפיון תחבורה חשמלית מתקדמת

ה- DX -3000 היא פלטפורמת בדיקה רב -פונקציונלית המיועדת לניתוח מקיף של תכונות הובלה חשמלית. זה משלב אפקט אולם, מגנטורסציה ואפיון IV במערכת משולבת יחידה. על ידי אופטימיזציה של בחירת מכשור וביטול מורכבות חיווט ידנית (הגדרות חדרים/טמפרטורה נמוכה), היא מייעלת את רכישת הנתונים לדיוק ולדירות. תואם לאלקטרומגנטים או למגנטים מוליכים-על (ניתן להגדרה על ידי המשתמש), הוא תומך בבדיקות מדגם חכמות ותוכנה הניתנת להתאמה אישית למדידות מהירות ואוטומטיות.

• זרימת עבודה יעילה: כרטיסי דגימה מודולריים מאפשרים התקנה מהירה (תומך ב 2-4 דגימות בו זמנית עם תוספות).
• טווח מדידה רחב: ניתוח התנגדות מ- 0. 1MΩ עד 100GΩ (ניתן להרחבה באמצעות מודולי מתח/עכבה גבוה).
• בדיקות אדפטיביות: פרמטרי שדה זרם/מגנטי לתכנות להערכות אולם דינאמי והתנגדות.
• הדמיה בזמן אמת: תוכנה אוטומטית מייצרת תוצאות ביניים, עקומות (IV, RT, RH) ופרמטרים סופיים (צפיפות מוביל, ניידות, עמידות בפני גיליון).
• גמישות מגנטית: ייצוב שדה אפס, יציבות שדה ארוכת טווח ובקרת שדה מהירה באמצעות מד גאוס משולב.
• צדדיות טמפרטורה: מודולים קריוגניים אופציונליים (1.6K - 800K) למחקרי סביבה משתנים.

• מוליכים למחצה: Sige, Ingaas, Hgcdte, Sic, Algaas וכו '.
• סרטים מוליכים: מתכות, מבני TMR, תחמוצות שקופות.
• מצעים בעלי עכבה גבוהה: GAAs מבודדים למחצה, CDTE, GAN.

1. ניתוח אפקט של הול:
   תפוקות: התנגדות, מקדם הול, סוג/ריכוז מנשא, ניידות.
2. פרופיל מגנטורסיות:
   מדדים: ΔR, ΔR/R%, עקומות RH.
3. אפיון דינמי:
   מיפוי IV בטמפרטורות/שדות משתנים.
   התנגדות תלויה בטמפרטורה (RT) תחת שדות קבועים.

מודולים חשמליים: מכשירי Precision Kithley (מקורות נוכחיים, nanovoltmeters, מטריצות מתג).

אפשרויות מגנט:

• Dx -100: 1.5T מקסימום (עמוד 60 מ"מ, אחידות ± 1%).
• Dx -130: 2.5T מקסימום (מוט 100 מ"מ).
• Dx -180: 2.7T מקסימום (מוט 120 מ"מ).

בקרה תרמית(אופציונלי):

חנקן נוזלי (80–500K), קריוסטטים (4–325K), מקררים קומפקטיים (45–325K).

מידות לדוגמא:

• כרטיסים קטנים/בדיקה: 12x12 מ"מ² עד 30x30 מ"מ².
• כרטיסים גדולים: 50x50 מ"מ².

מגבלות חשמליות:

• זרם: ± 100pa - 00ma (רזולוציה: 100pa).
• מתח: ± {{0}}. 1μV - 30V (רזולוציה: 0.1μV).
• צפיפות המנשא המקסימלית: 1 × 10⁸ סמ"ק.

קריטריוני דיוק:

• אי וודאות בשדה/עובי<1%.
• יחס B-Field/עובי אופטימלי: 1T/MM.

• הכנה לדוגמא: תומך ב- 4-/6- תצורות תיל.
• תוֹכנָה: אוטומציה מלאה עם רישום נתונים, התאמת עקומות ומיצוי פרמטרים.
• הַתאָמָה: צריכת חשמל נמוכה (<1mV sample excitation).

מו"פ מוליכים למחצה, מחקרי חומרים מגנטיים, אימות מכשירי סרט דק ומדע חומרים מתקדמים.

(הערה: תצורות מותאמות אישית זמינות עבור הגדרות מעבדה קיימות או דרישות מיוחדות.)